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TESCAN AMBER 是一款雙束(FIB-SEM)聚焦掃描電鏡系統(tǒng)系統(tǒng),可以滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求,在提供良好的圖像質(zhì)量的同時,可完成復(fù)雜的納米操作并保證高精度和操作靈活性。 TESCAN AMBER 配置了新的 BrightBeam? 鏡筒,真正的無磁場超高分辨(UHR)可以最大化的實(shí)現(xiàn)各種分析,包括磁性樣品的分析,以及在 FIB 操作時 SEM 的實(shí)時監(jiān)測。另一方面,創(chuàng)新的 Orage? FIB 鏡筒配有先進(jìn)的離子光學(xué)系統(tǒng)和氣體注入系統(tǒng),使得 TESCAN AMBER 成為了先進(jìn)的樣品制備和納米加工的儀器。 模塊化、基于工作流的軟件確保了在所有應(yīng)用中都能最大程度進(jìn)行操控,不需要在復(fù)雜的技術(shù)之間進(jìn)行取舍,用戶界面友好。因而 TESCAN AMBER 是FIB-SEM應(yīng)用的理想選擇,也是所有追求日常科學(xué)和技術(shù)突破的人士的理想分析平臺。 主要特點(diǎn) 創(chuàng)新的 BrightBeam?SEM 鏡筒技術(shù),實(shí)現(xiàn)真正的超高分辨(UHR) 創(chuàng)新的 Orage? Ga FIB 鏡筒可完成具有挑戰(zhàn)性的納米工程任務(wù) |
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